開催概要

会期: 2013年1月16日[水]〜18日[金]

会場: 東京ビッグサイト

主催: リード エグジビション ジャパン 株式会社

開催展名: 第14回 半導体パッケージング技術展 〜ICP〜

併催企画: 半導体パッケージング技術展専門技術セミナー 

特設ゾーン:

  • 半導体デバイス 検査・テスティング ゾーン
  • 設計・試作・製造受託ゾーン
  • めっき・エッチング ゾーン
  • MEMSパッケージング ゾーン

併催展:

同時開催展:

  • 来場対象者

    本展には下記のようなパッケージング技術を必要とする専門家が多数来場いたします。

    • 半導体メーカー
    • サブコントラクター
    • LEDなどオプトデバイスメーカー
    • MEMSデバイスメーカー
    • 半導体アセンブリメーカー
    • パワーデバイス・モジュールメーカー
    • センサモジュールメーカー
    • エレクトロニクスメーカーの高密度実装に関わる技術者  など
    • 出展対象製品

      <半導体組立装置>

      • ワイヤボンダ
      • フリップチップボンダ
      • モールドマシン/樹脂コーティングマシン
      • リード加工機
      • プラズマ加工機
      •  
      • 搬送装置
      • バックグラインド装置
      • 接合装置
      • ダイボンダ
      • 各種ボンダ
      • ダイシングマシン
      • レーザー加工機
      • 精密加工装置
      • 洗浄装置
      • レーザマーキング装置
      • その他各種半導体パッケージング製造装置

       

      <パッケージング材料・部品>

      • 封止材/アンダーフィル材
      • ACP/NCP
      • リードフレーム
      • テープ
      • 絶縁材料
      • レジスト
      • パッケージ基板(プリント基板、テープ基板、セラミック基板)
      • ACF/NCF
      • 各種接着剤
      • ボンディングワイヤ
      • バンプ形成材料
      • 金属板/放熱板
      • その他材料/部品

       

      <パッケージ解析/シミュレーションソフト>

       

      <各種半導体パッケージ技術>

    • 半導体デバイス 検査・テスティング ゾーン

      小型・高密度化が加速する半導体デバイスの検査・テストに特化した専門エリア

      • メモリテスタ
      • ICソケット
      • 検査用コネクタ
      • IC外観検査装置
      • X線検査装置
      • 不良解析システム/ソフトウェア
      • テスト請負サービス
      • ハンドラ
      • プローバ  など
      • SoCテスタ
      • ICテストクリップ
      • バーンインテスタ(信頼性試験・耐熱性試験)
      • バンプ外観検査装置
      • 回路修正システム/ソフトウェア
      • 各種測定装置
      • 評価・分析サービス
      • プローブカード
    • 設計・試作・製造受託ゾーン

      パッケージ設計・試作・製造・テストの受託サービスが出展!

      • 半導体・LED・パワーデバイスなどのパッケージング・ソリューション
      • MEMSデバイス パッケージング・ソリューション
      • センサモジュールの組立、実装、パッケージング・ソリューション
      • 設計・試作・製造・テストなど、あらゆるアウトソーシング(受託)サービス
    • めっき・エッチング ゾーン

      半導体・プリント配線板・電子デバイスなどに必要な表面処理技術が一堂に出展!

      • めっき材料
      • めっき装置
      • エッチング薬品
      • エッチングプロセス
      • 各種めっき技術関連製品
      • めっき薬品
      • めっきプロセス
      • エッチング装置
      • 試験器
      • 表面処理技術・関連製品  など
    • MEMSパッケージング ゾーン

      MEMSデバイスに必要なあらゆるパッケージング技術が一堂に出展!

      • MEMSデバイス製造装置
      • MEMSパッケージング材料
      • 評価・計測・検査機器
      • MEMSデバイス設計ツール・解析ソフト
      • MEMSファンドリーサービス(設計・試作・製造受託)
      • その他MEMSデバイス向け技術  など

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お問合せ

展示会 事務局
リード ジャパン(株)内
〒163-0570
東京都新宿区西新宿1-26-2
新宿野村ビル18階
TEL : 03-3349-8502
FAX : 03-3349-4900
E-mail : icp@reedexpo.co.jp

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