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日期: 2013年1月16日(星期三) - 18日(星期五) 會場: 日本・東京有明國際展覽中心 (Tokyo Big Sight, Japan)主辦單位: Reed Exhibitions Japan Ltd.
日期: 2013年1月16日[星期三] - 18日[星期五]
會場: 日本 東京有明國際展覽中心
主辦單位: Reed Exhibitions Japan Ltd.
展覽會名稱: 14th IC PACKAGING TECHNOLOGY EXPO
同期活動:
特設展區:
NEPCON JAPAN 2013 – 42nd Electronics R&D and Manufacturing Technology Expo 同屬展會:
NEPCON JAPAN 2013 – 42nd Electronics R&D and Manufacturing Technology Expo 同期展覽:
參觀者介紹
參觀人士包括生產、製造、工程、SMT、設計、R&D、品質控制、採購等領域的半導體組裝專家和電子商品製造商。 參觀者類型:
參展產品
組裝設備
封裝材料/元件
IC封裝用分析與模擬軟體
各種封裝
檢測、測試及測量半導體裝置專門展區。
匯集世界專注於IC設計、組裝和測試服務的頂級企業展出!
半導體、PCB、電子裝置等表面處理和實裝技術。
匯集MEMS設備的各項封裝技術
ICP 展會事務局Reed Exhibitions Japan Ltd.18F Shinjuku-Nomura Bldg., 1-26-2 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0570, Japan電話 : +81-3-3349-8518傳真 : +81-3-3349-8530電子郵件 : inw@reedexpo.co.jp